纳米粒度、Zeta电位和分子量分析仪 设备名称 纳米粒度、Zeta电位和分子量分析仪 设备型号 Zetasizer Nano ZS 设备管理员 潘从道 设备管理员单位 食品学院 生产/供应商 MALVERN 国别 英国 设备金额 38.8万元 购置年份 2012 年 收费标准 根据相关规定收费 现有功能与服务范围 一代Zetasizer Nano 系列可以为胶体和聚合物化学专家提供综合测量三项最重要参数的能力,即粒度、zeta 电位和分子量。 (1)粒度 - NIBS 技术可以对粒径范围0.3 纳米至 10 微米的颗粒和分子进行测量。(2)Zeta 电位 - M3-PALS 技术能够对水分散和非水分散体系中的 zeta 电位进行精确的测量。(3)分子量 - 雪崩光电二极管检测器和光纤检测光学装置提供测量绝对分子量所需的灵敏度和稳定性。 责任单位 食品学院 设备存放地点 食品实验楼302室 主要技术指标 (1)*使用非侵入式背散射技术,真实测量0.3-10000nm的颗粒 (2)*采用短波长的633nm高稳定He-Ne激光器 (3)样品浓度范围:0.1ppm - 40% w/v (4)采用高灵敏度APD检测器 (5)*采用高速数字相关器,>4000 通道,最快25ns采样时间 (6)采用12个衰减器,衰减倍数1-300000倍 (7)*测量角度为175度,12.8度 (8)*温度范围:0ºC to 90ºC,内置帕尔帖加热系统。可以测量粒度随温度变化的趋势图。
纳米粒度、Zeta电位和分子量分析仪
设备名称
设备型号
Zetasizer Nano ZS
设备管理员
潘从道
设备管理员单位
食品学院
生产/供应商
MALVERN
国别
英国
设备金额
38.8万元
购置年份
2012 年
收费标准
根据相关规定收费
现有功能与服务范围
一代Zetasizer Nano 系列可以为胶体和聚合物化学专家提供综合测量三项最重要参数的能力,即粒度、zeta 电位和分子量。
(1)粒度 - NIBS 技术可以对粒径范围0.3 纳米至 10 微米的颗粒和分子进行测量。(2)Zeta 电位 - M3-PALS 技术能够对水分散和非水分散体系中的 zeta 电位进行精确的测量。(3)分子量 - 雪崩光电二极管检测器和光纤检测光学装置提供测量绝对分子量所需的灵敏度和稳定性。
责任单位
设备存放地点
食品实验楼302室
主要技术指标
(1)*使用非侵入式背散射技术,真实测量0.3-10000nm的颗粒
(2)*采用短波长的633nm高稳定He-Ne激光器
(3)样品浓度范围:0.1ppm - 40% w/v
(4)采用高灵敏度APD检测器
(5)*采用高速数字相关器,>4000 通道,最快25ns采样时间
(6)采用12个衰减器,衰减倍数1-300000倍
(7)*测量角度为175度,12.8度
(8)*温度范围:0ºC to 90ºC,内置帕尔帖加热系统。可以测量粒度随温度变化的趋势图。
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